Microscopía Electrónica en la Caracterización de Materiales 
Curso de Posgrado Extracurricular

Docente a cargo del curso: Dras. Patricia B. Bozzano y Carolina A. Vazquez

Docente responsable local del curso: Dra. Miriam Castro

Carga Horaria: 36 horas en total, incluyendo 18 clases teóricas, 18 clases prácticas (2 UVACs)

Fecha: agosto de 2018, duración una semana.

Modalidad: presencial.

Profesionales a los que está destinado el curso: Inscriptos en carreras de posgrado de la Facultad de Ingeniería UNMdP, docentes de la Universidad Nacional de Mar del Plata, inscriptos en carreras de posgrado de organismos nacionales, profesionales interesados en la temática. 

Descripción y objetivos del curso: Se propone un curso introductorio a las técnicas de microscopía electrónica que permita optimizar el uso de las técnicas para la caracterización de materiales, teniendo en cuenta los alcances y limitaciones de cada una de las técnicas. El objetivo principal de la materia es familiarizar al alumno con el uso de las modernas técnicas de caracterización de materiales, microscopia electrónica, microanálisis y microscopías de punta, sus aplicaciones y la interpretación de la información obtenida. Las técnicas mencionadas se utilizan actualmente en todo laboratorio dedicado a la ciencia de los materiales. En el desarrollo del curso se dan primero los fundamentos teóricos en los cuales de las distintas técnicas y se describe el funcionamiento de los equipos, en particular aquellos disponibles en el ámbito del instituto. Luego las clases se complementan con la resolución de problemas específicos de análisis de materiales. 

Programa
Tema 1: Interacción de los Electrones con la Materia 
Tema 2: El Microscopio Electrónico de Transmisión 
Tema 3: Teoría Cinemática de la Difracción de Electrones 
Tema 4: Contraste de Defectos Cristalinos según la Aproximación Cinemática 
Tema 5: Microscopía Electrónica Analítica y de Alta Resolución 
Tema 6: Descripción del Microscopio Electrónico de Barrido 
Tema 7: Interpretación de las Imágenes 
Tema 8: Microanálisis Dispersivo en Energía:  Análisis Cualitativo y Cuantitativo 
Tema 9: Aplicaciones y Técnicas Complementarias de Caracterización. Aplicaciones al Estudio de Aleaciones y Cerámicos. Análisis de Segundas Fases. Descripción del FIB y sus aplicaciones

Bibliografía.
-	Scanning Electron Microscopy and x-Ray microanalisis, J. Goldstein, D.E. Newbury, D.C., Joy, C.E. Lyman, P. Echlin, E. Lifshin, L. Sawyer, J.R. Michael, Springer, 2003
-	Principles and Practice of Variable Pressure / Environmental Scanning Electron Microscopy, D.J.Stokes. John Wiley & Sons, 20 nov. 2008. 
-	Transmission Electron Microscopy, A text book for materials science, B. Carter y D.Williams.Springer, 2009.